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儀表網(wǎng) 儀表產(chǎn)業(yè)】小角X射線散射指的是當(dāng)一束極細(xì)的X射線穿過(guò)一納米粉墨層時(shí)，經(jīng)顆粒內(nèi)電子的散射在原光束附近的極小角域內(nèi)分散開(kāi)的現(xiàn)象。通過(guò)對(duì)小角X射線散射圖或散射曲線的分析即可計(jì)算出散射體的形狀、 大小、分布及含量等信息。
另外，紅外線
氣體分析儀，是利用紅外線進(jìn)行氣體分析。它基于待分析組分的濃度不同，吸收的輻射能不同.剩下的輻射能使得檢測(cè)器里的溫度升高不同，動(dòng)片薄膜兩邊所受的壓力不同，從而產(chǎn)生一個(gè)電容檢測(cè)器的電信號(hào)。這樣，就可間接測(cè)量出待分析組分的濃度。近日，北京航空航天大學(xué)委托中鋼招標(biāo)有限責(zé)任公司發(fā)布兩項(xiàng)招標(biāo)項(xiàng)目，采購(gòu)X射線散射儀和納米紅外分析系統(tǒng)，項(xiàng)目預(yù)算合計(jì)1170萬(wàn)元(人民幣)。
項(xiàng)目一
項(xiàng)目名稱：北京航空航天大學(xué)小角X射線散射儀
項(xiàng)目號(hào)：0710-1941STC72525
項(xiàng)目預(yù)算：545.0 萬(wàn)元(人民幣)
招標(biāo)范圍：小角X射線散射儀 1臺(tái)
序號(hào) | 產(chǎn)品名稱 | 數(shù)量 | 簡(jiǎn)要技術(shù)規(guī)格 |
1 | 小角X射線散射儀 | 1臺(tái) | X-射線源： （1）微聚焦光源，功能覆蓋點(diǎn)/線光源功能，具有二維探測(cè)功能； 2、 X-射線準(zhǔn)直系統(tǒng)： （1）無(wú)散射狹縫準(zhǔn)直系統(tǒng)或者孔準(zhǔn)直系統(tǒng)； 3、樣品腔及樣品臺(tái)： （1）樣品腔的內(nèi)部規(guī)格不小于50升，且預(yù)留有法蘭接口； 4、混合像素單光子計(jì)數(shù)探測(cè)器： （1）小角散射信號(hào)探測(cè)器利用固體傳感材料（例如：硅）直接轉(zhuǎn)換X射線為電子信號(hào)，并采用單光子計(jì)數(shù)模式，可設(shè)定探測(cè)能量閾值，非由氣體轉(zhuǎn)換X射線的探測(cè)器； |
項(xiàng)目二
項(xiàng)目名稱：北京航空航天大學(xué)納米紅外分析系統(tǒng)
項(xiàng)目號(hào)：0710-1941STC72526
項(xiàng)目預(yù)算：625.0 萬(wàn)元(人民幣)
招標(biāo)范圍：納米紅外分析系統(tǒng) 1臺(tái)
序號(hào) | 產(chǎn)品名稱 | 數(shù)量 | 簡(jiǎn)要技術(shù)規(guī)格 |
1 | 納米紅外分析系統(tǒng) | 1臺(tái) | 1. 掃描探針成像系統(tǒng) 1.1 系統(tǒng)集成光學(xué)顯微鏡，配有數(shù)字?jǐn)z像機(jī)可在電腦中顯示，光學(xué)成像分辨率≤1.5 微米，配有10倍物鏡和高速CCD相機(jī)。 2. 納米化學(xué)成像和光譜模塊 2.1 采用光熱誘導(dǎo)效應(yīng)，通過(guò)檢測(cè)樣品在特征波長(zhǎng)下被激發(fā)產(chǎn)生的熱膨脹或者分子偶極矩的變化采集紅外吸收光譜。 3. 納米熱學(xué)模塊 3.1實(shí)現(xiàn)探針自加熱，加熱溫度≥400℃，加熱速率≥5000℃/s。 |
重要時(shí)間及地點(diǎn)
1、招標(biāo)文件獲取時(shí)間：2019年12月30日至 2020年01月07日 16:00(雙休日及法定節(jié)假日除外)
2、招標(biāo)文件獲取地點(diǎn)：北京市海淀區(qū)海淀大街8號(hào)中鋼國(guó)際廣場(chǎng)16層
3、投標(biāo)文件遞交截止時(shí)間及開(kāi)標(biāo)時(shí)間：2020年01月20日 09:00
4、開(kāi)標(biāo)地點(diǎn)：北京航空航天大學(xué)知行樓北樓101會(huì)議室(北京市海淀區(qū)學(xué)院路37號(hào))
最后，我們要了解到，電磁波是物質(zhì)分析的重要方法，從紅外光譜、紫外/可見(jiàn)光分光光度計(jì)到X射線儀器，不同頻率的電磁波在科研中發(fā)揮著重要的作用。在前沿研究領(lǐng)域納米科學(xué)中，電磁波同樣大有用武之地，小角X射線散射儀等儀器在高分辨率電子顯微鏡之外，為人們提供了另一種觀察納米級(jí)顆粒的方式。
