目前，由全國納米技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會歸口并由全國納米技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會蘇州地區(qū)工作組組織起草的國家標(biāo)準(zhǔn)計劃項目：20204665-T-491《納米技術(shù) 表面增強拉曼固相基片均勻性測定》已進入征求意見階段，現(xiàn)公開廣泛征集意見，截止日期2022年7月15日。
 

　　表面增強拉曼光譜(Surface Enhanced Raman Spectroscopy，SERS)技術(shù)靈敏度高，能在痕量濃度范圍內(nèi)給出關(guān)于試樣的結(jié)構(gòu)特征、吸附狀態(tài)等豐富信息，在環(huán)境檢測、食品安全、生物制藥等領(lǐng)域已顯示出巨大的應(yīng)用前景。SERS 技術(shù)的核心是 SERS 基底，目前常見的SERS基底主要分為液相納米溶膠和固相基片。
 

　　但由于缺乏相關(guān)的性能評價標(biāo)準(zhǔn),市場上的固相SERS基片質(zhì)量參差不齊,難以獲得市場普遍認可，阻礙了SERS技術(shù)的應(yīng)用發(fā)展。因此，建立科學(xué)的固相基片質(zhì)量評價體系是SERS技術(shù)應(yīng)用的關(guān)鍵，也是SERS技術(shù)當(dāng)下急需解決的問題。
 

　　《納米技術(shù) 表面增強拉曼固相基片均勻性測定》規(guī)定了表面增強拉曼固相基片的均勻性測定的原理、儀器要求、樣品準(zhǔn)備、表征步驟及結(jié)果表示等。
 

　　表面增強拉曼光譜是一種光譜方法，其原理是利用在合適波長的光照射下，吸附在具有納米尺度粗糙度的特定金屬表面的某些分子或納米物體所呈現(xiàn)的拉曼效應(yīng)增強的現(xiàn)象。觀測到不同程度增強的典型金屬包括Au、Ag、Cu和Al，為了發(fā)生增強，表面粗糙度通常在幾十納米范圍內(nèi)。
 

　　根據(jù)標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定，對于表面增強拉曼基片均勻性的測定，可通過拉曼成像分析法在規(guī)定區(qū)域內(nèi)至少100個不同位置處獲取拉曼信號，利用統(tǒng)計分析獲得信號的分布特性，進而推算出拉曼增強基片的均勻性。增強拉曼基片均勻性的測定過程主要包括樣品準(zhǔn)備、表征步驟、數(shù)據(jù)處理、均勻性計算。
 

　　標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定測定的儀器設(shè)備應(yīng)包括激光共聚焦顯微拉曼儀、超聲分散儀器(功率約不低于100 w)、分析天平(精度不超過0.0001 g)等。
 

　　該文件在制定過程中引用了GB/T 30544.6-2016《納米科技 術(shù)語第6部分：納米物體表征》、GB/T 33252-2016《納米技術(shù) 激光共聚焦顯微拉曼光譜儀性能測試》、JJF 1544-2015《拉曼光譜儀校準(zhǔn)規(guī)范》等文件。
 

　　該標(biāo)準(zhǔn)主要起草單位有蘇州英菲尼納米科技有限公司、蘇州市計量測試院、蘇州大學(xué)、國家納米科學(xué)中心、中國檢驗檢疫科學(xué)研究院、姑蘇實驗室等6家單位分別負責(zé)標(biāo)準(zhǔn)整體工作、內(nèi)容核驗和實驗驗證等工作。
 

　　工作組建議，標(biāo)準(zhǔn)發(fā)布實施后，積極在納米技術(shù)產(chǎn)業(yè)領(lǐng)域中涉及表面增強拉曼芯片生產(chǎn)、應(yīng)用的產(chǎn)業(yè)企業(yè)中進行廣泛宣貫，以促進標(biāo)準(zhǔn)的實施并對相關(guān)產(chǎn)業(yè)領(lǐng)域的規(guī)范和高效快速發(fā)展起到重要的標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)支撐作用。